Mrežni seminar nakladnika „Elsevier“ na hrvatskom jeziku odgođen za 25. travnja 2017.

Objavljeno 12.4.2017.

Scopus – Rad, autor, metrika, mrežni seminar tvrtke Elsevier koji je otkazan 11. travnja 2017. godine uslijed spriječenosti predavačice, održat će se 25. travnja 2017.

Bit će to posljednji u nizu od tri mrežna seminara održana na hrvatskom jeziku tijekom posljednja dva mjeseca u organizaciji tvrtke Elsevier, jednog od vodećih svjetskih pružatelja informacija u području znanosti, suvremene tehnologije i medicine te uglednog akademskog nakladnika više od 2500 znanstvenih časopisa.

Ova serija seminara započela je u veljači, seminarom posvećenim korištenju programa za upravljanje referencama Mendeley, dok će se travanjski seminar, kao nastavak sadržaja ožujskog seminara, tematski još šire baviti bibliografskom i citatnom bazom Scopus. Ova baza indeksira časopise, nakladničke cjeline, strukovne časopise i zbornike radova s konferencija iz svih područja znanosti. Uključuje izvore iz cijeloga svijeta, a indeksirano je i preko 22 748 recenziranih časopisa, od kojih je 4470 u otvorenom pristupu. Podaci o citiranosti dostupni su za izvore objavljene od 1996. godine naovamo. Scopus sadrži više od 66 milijuna zapisa te 27 milijuna patentnih zapisa iz čak pet patentnih ureda.

Elsevier, koji se posljednjih par godina nalazi u središtu prijepora između pripadnika akademske zajednice i predstavnika nakladnika oko etičkih pitanja vezanih uz omogućivanje slobodnog pristupa znanstvenim informacijama s jedne strane i potrebu za zaradom nakladnika s druge strane, trenutačno je treći najveći svjetski nakladnik izdanja dostupnih prema načelima otvorenog pristupa. S uspješnom nakladničkom tradicijom duljom od 130 godina i velikim brojem recenziranih znanstvenih časopisa, u nakladi Elseviera dosad je objavljeno više od 30 000 elektroničkih knjiga, dok statistike bilježe preko 900 milijuna preuzimanja izvora ovog nakladnika godišnje.

Saznajte više pojedinosti i prijavite se za sudjelovanje u mrežnom seminaru Scopus – Rad, autor, metrika.